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功能：
叶片/涂层耐久性考核、
叶片局部回火去应力
特点：均匀、控温准、大面积
针对多种材料/结构、多种控温需求开展验证，完全满足设定目标
北京大学工学院
航天透波材料温度曲线
X射线断层扫描成像系统-工业CT
最大放大倍数:200倍，细节辨别能力:3μm
